ARRIÈRE

Microscope de mesure de précision

Marque:NANBEI

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détails du produit

Le microscope de mesure de précision est développé pour les semi-conducteurs, la fabrication de plaquettes, l'information électronique et l'industrie métallurgique. En outre, il peut être utilisé comme microscope métallurgique avancé et pour analyser et identifier l'histologie de divers métaux et alliages. Il est donc largement utilisé pour l'identification de la qualité de la coulée, l'examen des matières premières et l'analyse de la structure métallique des matériaux après traitement, en usine et en laboratoire.

Principaux paramètres techniques

Item	Parameter	Item	Parameter
Optical system	Infinite optical system	Focusing mechanism	Motorized
Viewing head	Trinocular head （0.3X CCD mount adapter）	Base	Marble
Lens in the tube	Focal distance f=250 mm	Display divice	Zero adjust, direction change, data output, TTL signal
Polarizing device	analyzer can rotate 360。. The polarizer and analyzer can be removed out of optical path.
Illumination	Epi-illumination: 12V/50W Halogen lam. Transmitted illumination: 5W LED.
Stage	Cross travel: XY 200mm×200mm. Measuring method: metrology grating. Resolution: 0.001 mm. Moving function: X/Y.
Options	1. 300 mega pixel, 500 mega pixel, 800 mega pixel and 1000 mega pixel CMOS 2. Measuring software 3. Objective: 2X (NA0.055/W.D 34 mm), 100X ( NA0.55/W.D 13 mm) 4. Microscopic spectrometer