Microscope à force atomique FM-Nanoview 6600 AFM

Conception tout-en-un, structure et forme intelligentes. La tête de balayage et la platine de mesure sont conçues ensemble, performances anti-vibrations robustes. Détection de précision au laser et dispositif d'alignement de sonde pour un réglage laser simple et facile. ou automatiquement, pour réaliser un positionnement précis de la zone de numérisation.Le dispositif de transfert d'échantillons haute précision et grande portée permet de numériser n'importe quelle zone d'échantillon intéressante. Différents types de scanneurs répondent aux exigences des clients en termes de précision et de taille. Système d'observation optique Positionnement.Utilisez un servomoteur pour régler la focalisation et le grossissement du système optique.Le système électronique est conçu comme modulaire et facile d'entretien et de développement.Intégré à de nombreux modes de fonctionnement électroniques de commande pour un développement ultérieur.

 

Logiciel et fonctions conviviaux

 

1. Les images multicanaux sont capturées et affichées de manière synchrone, observez la carte de profil en temps réel.

2. Obtenez et mesurez plusieurs courbes telles que F-Z, f-RMS, RMS-Z

3. Exécutez la fonction de déplacement et de découpe de la zone de balayage, choisissez une zone d’échantillon intéressante.

4. Scannez l'échantillon selon un angle aléatoire au début.

5. Ajustez le système de détection de point laser en temps réel.

6. Recherchez la fréquence de résonance de la pointe manuellement ou automatiquement.

7. Choisissez et définissez une couleur différente pour l'image numérisée dans la palette.

8. Prend en charge l’étalonnage linéaire moyen et offset en temps réel pour le titre de l’échantillon.

9. Soutenez l'étalonnage de la sensibilité du scanner et l'auto-étalonnage du contrôleur électronique.

 

Principaux paramètres techniques